Characterization of non-line-of-sight (NLOS) bias via analysis of clutter topology

Characterization of non-line-of-sight (NLOS) bias via analysis of clutter topology
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通过杂波拓扑分析表征非视距 (NLOS) 偏差

DOI:
10.1109/plans.2012.6236981
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发表时间:
2012
期刊:
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影响因子:
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通讯作者:
Hussain M
Hussain M
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Hussain M

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A. Read
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