Electrical detection of spin accumulation in Si with a high-quality CoFe/Si Schottky tunnel contact
Electrical detection of spin accumulation in Si with a high-quality CoFe/Si Schottky tunnel contact
复制标题
使用高质量 CoFe/Si 肖特基隧道接触对 Si 中的自旋积累进行电学检测
DOI：
--
复制
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
et.al.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y.Maeda;Y.Ando;et.al.
