Nano-imaging of Excess Noise in Graphene with THz Near-field Microscopy
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使用太赫兹近场显微镜对石墨烯中的过量噪声进行纳米成像
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Y. Kajihara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.-T. Lin;Q. Weng;H. Nema;S. Kim;K. Sugawara;T. Otsuji;S. Komiyama;and Y. Kajihara
