The origin of negative charging in amorphous Al$_2$O$_3$ films: The role of native defects

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非晶 Al$_2$O$_3$ 薄膜中负电荷的起源:原生缺陷的作用

DOI:
10.48550/arxiv.1811.00610
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发表时间:
2018
期刊:
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影响因子:
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通讯作者:
Dicks O
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中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Dicks O

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