超高感度走査透過電子顕微鏡法OBF STEMの開発による電子線敏感材料の原子構造直接観察
超高感度走査透過電子顕微鏡法OBF STEMの開発による電子線敏感材料の原子構造直接観察
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通过开发超灵敏扫描透射电子显微镜（OBF STEM）直接观察电子束敏感材料的原子结构
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
柴田 直哉
中科院分区：
文献类型：
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作者：
大江 耕介;関 岳人;吉田 要;河野 祐二;幾原 雄一;柴田 直哉
