菱面体晶構造を有するBiFeO3薄膜に起因したX線回折パターンの検出
菱面体晶構造を有するBiFeO3薄膜に起因したX線回折パターンの検出
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菱面体结构 BiFeO3 薄膜的 X 射线衍射图谱检测
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
永沼博
中科院分区：
文献类型：
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作者：
一ノ瀬智浩;安井伸太郎;In-Tae Bae;永沼博
