Depth profiling study of in situ CdCl2 treated CdTe/CdS heterostructure with glancing angle incidence X-ray diffraction
Depth profiling study of in situ CdCl2 treated CdTe/CdS heterostructure with glancing angle incidence X-ray diffraction
复制标题
DOI：
10.1016/j.tsf.2003.11.110
复制
发表时间：
2004-03
期刊：
影响因子：
2.1
通讯作者：
K. V. Krishna;V. Dutta
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. V. Krishna;V. Dutta
