T.Omura, M.Watanabe et al.: "Quantitative evaluation of zero-loss and core-loss images by EF-TEM"Journal of Electron Microscopy. (印刷中).
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T.Omura、M.Watanabe 等人：“通过 EF-TEM 对零损耗和磁芯损耗图像进行定量评估”电子显微镜杂志（正在出版）。
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