Surface Potential Clarification by Non-Feedback Kelvin Probe Force Microscopy
Surface Potential Clarification by Non-Feedback Kelvin Probe Force Microscopy
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通过无反馈开尔文探针力显微镜澄清表面电势
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. J. Li Y. Sugawara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
L. Kou;R. Kanbayashi;Z. Ma;Y. Naitoh;Y. J. Li Y. Sugawara
