Grazing Incidence X-ray Diffraction Measurements of InAs/GaAs Quantum Dots Using Equipment Available for Laboratories
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使用实验室现有设备对 InAs/GaAs 量子点进行掠入射 X 射线衍射测量
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
向井剛輝
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kohki Mukai;Keita Watanabe;向井剛輝
