Surface Hall Potentiometry to Characterize Functional Semiconductor Films

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用于表征功能半导体薄膜的表面霍尔电位法

DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Extended Abstracts of the 2005 International Conference on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS
影响因子：
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通讯作者：
Mizuho Morita
Mizuho Morita
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Kenta Arima;Kenji Hiwa;Ryoji Nakaoka;Mizuho Morita

文献摘要

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