先端DRAMにおけるデータ保持時間の変動現象のメカニズム〜単一点欠陥が引き起こすデバイス劣化現象
先端DRAMにおけるデータ保持時間の変動現象のメカニズム〜単一点欠陥が引き起こすデバイス劣化現象
复制标题
先进DRAM中数据保留时间波动现象的机制~单点缺陷引起的器件劣化现象
DOI：
--
复制
发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
梅田享英
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y. Toyota;K. lokibe;R. Koga;A. E.Engin;T. H. Kim;M. Swaminathan;梅田享英
