H.Suematsu ら: "Novel Large-Area High-Resoltion-Transmission-Electron-Microscopy Tecgnique using FIB-Fabricated Specimens"Proc.13th Int.Conf.High-Power Particle Beams. (印刷中). (2001)
H.Suematsu ら: "Novel Large-Area High-Resoltion-Transmission-Electron-Microscopy Tecgnique using FIB-Fabricated Specimens"Proc.13th Int.Conf.High-Power Particle Beams. (印刷中). (2001)
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H.Suematsu 等人：“使用 FIB 制造样本的新型大面积高分辨率透射电子显微镜技术”Proc.13th Int.Conf.High-Power Particle Beams（印刷中）。
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