CMOS暗号回路におけるシリコン基板からのサイドチャネル漏洩
CMOS暗号回路におけるシリコン基板からのサイドチャネル漏洩
复制标题
CMOS 加密电路中硅衬底的侧沟道泄漏
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Jean-Luc Danger
中科院分区：
文献类型：
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作者：
藤本大介;三浦典之;永田真;林優一;本間尚文;Shivam Bhasin;Jean-Luc Danger
