Y.Hijikata et al.: "Composition analysis of SiO_2/SiC interfaces by electron spectroscopic measurements using slope-shaped oxide films"Applied Surface Science. 184. 161-166 (2001)
Y.Hijikata et al.: "Composition analysis of SiO_2/SiC interfaces by electron spectroscopic measurements using slope-shaped oxide films"Applied Surface Science. 184. 161-166 (2001)
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Y. Hijikata 等人：“使用斜坡状氧化膜通过电子光谱测量进行 SiO_2/SiC 界面的成分分析”应用表面科学。
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