Determination of the half-life of the ground state of Th^^<229> by using U^^<232> and U^^<233> decay series
Determination of the half-life of the ground state of Th^^<229> by using U^^<232> and U^^<233> decay series
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利用U^^<232>和U^^<233>衰变级数测定Th^^<229>基态半衰期
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kikunaga;H.; Suzuki;T.; Nomura;M.; Mitsugashira;T.; Shinohara;A.
