A Fast DC Fault Detection Method Using DC Reactor Voltages in HVdc Grids
A Fast DC Fault Detection Method Using DC Reactor Voltages in HVdc Grids
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高压直流电网中利用直流电抗器电压的快速直流故障检测方法
DOI：
10.1109/tpwrd.2018.2825779
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发表时间：
2018-04
影响因子：
4.4
通讯作者：
Zhao Chengyong
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Li Chengyu;Gole Aniruddha M.;Zhao Chengyong
提出了一种基于直流故障限流电抗器两端电压的高压直流电网直流短路故障快速检测方法。在所提出的方法中，初级检测仅使用单端直流电抗器电压信息，并被证明能够在1 ms内识别故障线路以及故障极。后备检测主要用于高阻故障，并使用线路两侧之间的通信。它的速度取决于两端之间的信号的传播时间，但将操作，如本文所示，通常在2 ms或less.The方法是合理的，使用分析计算和详尽的验证通过电磁暂态仿真极极和极对地故障，不同的故障电阻，故障位置，和直流电抗器值。验证结果表明，该方法能够识别所有真正的直流线路故障，但不容易与交流线路故障，不同的负载水平，等误操作。
This paper proposes a fast dc short-circuit fault detection method for HVdc grids, which relies on the voltage across the dc fault-current-limiting reactor. In the proposed approach, primary detection uses only the single-terminal dc reactor voltage information and is shown to be able to identify the faulted line as well as the faulted pole within 1 ms. The backup detection is primarily required for high resistance faults and uses communication between the two sides of the line. Its speed is dependent on the travel time of signals between the two ends, but will operate, as shown in the paper, typically in 2 ms or less. The approach is justified using analytical calculations and exhaustively validated via electromagnetic transient simulation for pole-to-pole and pole-to-ground faults, different fault resistance, fault locations, and dc reactor values. The validation shows that the method is able to identify all genuine dc line faults, but is not prone to misoperation with ac line faults, different loading levels, and so on.
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影响因子：
4.4
作者：
Jeremy Sneath;A. Rajapakse
通讯作者：
Jeremy Sneath;A. Rajapakse
影响因子：
4.4
作者：
Wenyuan Wang;M. Barnes;O. Marjanovic;O. Cwikowski
通讯作者：
Wenyuan Wang;M. Barnes;O. Marjanovic;O. Cwikowski
DOI：
--
发表时间：
2013-04
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
G. Asplund;K. Linden;C. Barker;Andrée Marzin;U. Baur;N. Pahalawaththa;J. Beerten;M. Rashwan
通讯作者：
G. Asplund;K. Linden;C. Barker;Andrée Marzin;U. Baur;N. Pahalawaththa;J. Beerten;M. Rashwan
DOI：
10.1109/epe.2015.7309268
发表时间：
2015-09
期刊：
2015 17th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE'15 ECCE-Europe)
影响因子：
--
作者：
S. Azad;W. Leterme;D. Van Hertem
通讯作者：
S. Azad;W. Leterme;D. Van Hertem
影响因子：
1
作者：
Zheren Zhang;Zheng Xu
通讯作者：
Zheren Zhang;Zheng Xu