高橋哲,三好隆志,高谷裕浩: "シリコンウェハ加工表面における近接場の電磁界解析-近接場を利用した微小欠陥検出法に関する考察-"2000年度精密工学会北海道支部学術講演会講演論文. 旭川. 18-19 (2000)
高橋哲,三好隆志,高谷裕浩: "シリコンウェハ加工表面における近接場の電磁界解析-近接場を利用した微小欠陥検出法に関する考察-"2000年度精密工学会北海道支部学術講演会講演論文. 旭川. 18-19 (2000)
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Tetsu Takahashi、Takashi Miyoshi、Hirohiro Takatani：“硅晶片加工表面的近场电磁场分析 - 利用近场的微缺陷检测方法的思考 -”2000 年日本精密工程学会北海道演讲论文旭川分会学术会议。18-19（2000）
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