T.Matsukawa,et al.: "Evaluation of single-event immunity on micron-size device area using single-ion microprobe technique" Nuclear Instruments and Methods in Physics Reserch B.
T.Matsukawa,et al.: "Evaluation of single-event immunity on micron-size device area using single-ion microprobe technique" Nuclear Instruments and Methods in Physics Reserch B.
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T.Matsukawa 等人：“使用单离子微探针技术评估微米级器件区域的单粒子抗扰度”核物理研究仪器和方法 B。
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