New simplified measuring method for distributed low-level birefringence(Proc. of 9th International Symposium on Laser Metrology on CD-ROM, edited by Chenggen Quan, Anand Asundi、SPIE Vol. 7155巻、pp.715510-1〜715510-8)
New simplified measuring method for distributed low-level birefringence(Proc. of 9th International Symposium on Laser Metrology on CD-ROM, edited by Chenggen Quan, Anand Asundi、SPIE Vol. 7155巻、pp.715510-1〜715510-8)
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分布式低水平双折射简化测量新方法（第九届国际激光计量研讨会论文集CD-ROM，全承根、阿南德·阿松迪主编，SPIE Vol. 7155，pp.715510-1～715510-8）
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yasushi Niitsu and Kensuke Ichinose
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kenji Gomi;Tomoyuki Suzuki;Yasushi Niitsu and Kensuke Ichinose
