Photon-induce Force Microscopy in Heterodyne AM Technique
Photon-induce Force Microscopy in Heterodyne AM Technique
复制标题
外差调幅技术中的光子感应力显微镜
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Junsuke Yamanishi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Yamanishi;Y. Naitoh;Y. J. Li;Y. Sugawara;Junsuke Yamanishi
