Characterization of direct piezoelectric response for P(VDF-TrFE) films using scanning prove microscopy
Characterization of direct piezoelectric response for P(VDF-TrFE) films using scanning prove microscopy
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使用扫描显微镜表征 P(VDF-TrFE) 薄膜的直接压电响应
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Norifumi Fujimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Izuru Kanagawa;Yuji Matsushita;Takeshi Yoshimura;and Norifumi Fujimura
