Atomic-scale Characterization of the Interfacial Phonon in Graphene/SiC using Inelastic Tunneling Spectroscopy
Atomic-scale Characterization of the Interfacial Phonon in Graphene/SiC using Inelastic Tunneling Spectroscopy
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使用非弹性隧道光谱对石墨烯/SiC 中界面声子进行原子尺度表征
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Watanabe
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Komeda;Y. Sainoo;S. Shahed;T. Kobayashi;N. Endo;H. Fukidome;S. Watanabe
