K.Miura: "Intelligent EB Test System for Automatic VLSI Fault Tracing"Proc.8th IEEE Asian Test Symposium. 335-340 (1999)
K.Miura: "Intelligent EB Test System for Automatic VLSI Fault Tracing"Proc.8th IEEE Asian Test Symposium. 335-340 (1999)
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K.Miura：“用于自动 VLSI 故障跟踪的智能 EB 测试系统”Proc.8th IEEE 亚洲测试研讨会。
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