Naoto Yoshii, Satoru Morita, Akihito Shinozaki, Minoru Aoki, Mizuho Morita: "Determination of Energy Barrier Heights of Ultra-thin Silicon Dioxide Films Using Different Metal Gates"ABSTRACTS, Fourth International Symposium on Control of Semiconductor Inte
Naoto Yoshii, Satoru Morita, Akihito Shinozaki, Minoru Aoki, Mizuho Morita: "Determination of Energy Barrier Heights of Ultra-thin Silicon Dioxide Films Using Different Metal Gates"ABSTRACTS, Fourth International Symposium on Control of Semiconductor Inte
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Naoto Yoshii、Satoru Morita、Akihito Shinozaki、Minoru Aoki、Mizuho Morita：“使用不同金属栅极确定超薄二氧化硅薄膜的能垒高度”摘要，第四届半导体集成电路控制国际研讨会
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