Nanoscale analysis by combined spectroscopies based on non-contact atomic force microscopy under a bias voltage
Nanoscale analysis by combined spectroscopies based on non-contact atomic force microscopy under a bias voltage
复制标题
基于偏压下非接触原子力显微镜的组合光谱纳米级分析
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Toyoko Arai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. H. Tavabi;S. Arai;S. Muto and T. Tanji;○佐々木正男・山村正樹・鍋島達弥;Toyoko Arai
