Sparse nonlinear inverse imaging for shot count reduction in inverse lithography

Sparse nonlinear inverse imaging for shot count reduction in inverse lithography
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稀疏非线性逆成像可减少逆光刻中的发射次数

DOI:
10.1364/oe.23.026919
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
3.8
通讯作者:
Edmund Y. Lam
Edmund Y. Lam
中科院分区:
物理与天体物理2区
文献类型:
--
作者:
Wu Xiaofei;Liu Shiyuan;Lv Wen;Edmund Y. Lam

文献摘要

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