Determination of the second critical end point in silicate-H2O systems using high-pressure and high-temperature X-ray radiography.
Determination of the second critical end point in silicate-H2O systems using high-pressure and high-temperature X-ray radiography.
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使用高压高温 X 射线照相法测定硅酸盐-H2O 系统中的第二个关键终点。
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Ono.S.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Mibe;K.;Kanzaki;M.;Kawamoto;T.;Matsukage;K.N.;Fei;Y.;Ono.S.
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G. Kennedy;G. Wasserburg;H. C. Heard;R. C. Newton
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发表时间：
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P. Niggli
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DOI：
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发表时间：
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期刊：
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D. Rubie