S.Shingubara: "Molecular Dynamics Study of Void Movement due to Electromigration" Proc.of the 3rd Int.Symp.on Process Physics and Modelling in Semiconductor Technology,ECS. 93-6. 263-270 (1993)
S.Shingubara: "Molecular Dynamics Study of Void Movement due to Electromigration" Proc.of the 3rd Int.Symp.on Process Physics and Modelling in Semiconductor Technology,ECS. 93-6. 263-270 (1993)
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S.Shingubara：“电迁移引起的空洞运动的分子动力学研究”，第三届半导体技术过程物理和建模国际研讨会论文集，ECS。
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