Analysis of In distribution in GaInN/GaN multilayer structures by X-ray CTR scattering (invited)
Analysis of In distribution in GaInN/GaN multilayer structures by X-ray CTR scattering (invited)
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X射线CTR散射分析GaInN/GaN多层结构中In的分布（特邀）
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Tabuchi and Y. Takeda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Ito;ら;M. Tabuchi and Y. Takeda
