蛍光X線の強度干渉現象を利用したXFELのパルス幅計測
蛍光X線の強度干渉現象を利用したXFELのパルス幅計測
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利用荧光X射线强度干涉现象测量XFEL脉冲宽度
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
矢橋牧名
中科院分区：
文献类型：
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作者：
井上伊知郎;玉作賢治;犬伏雄一;大坂泰斗;矢橋牧名
