Domain pattern measurements using CCD
Domain pattern measurements using CCD
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使用 CCD 进行域图案测量
DOI：
10.1109/tmag.1981.1061615
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发表时间：
1981
影响因子：
2.1
通讯作者：
K. Shirae
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Honda;K. Shirae
在利用克尔效应的视场观测仪器中，为了获得良好的对比度，必须进行繁琐的表面抛光。因此，要快速观察大量样本几乎是不可能的。我们研制了一种新型的域图样观察仪，它将克尔效应产生的反射光转换成电信号，并由微电脑进行处理，以提高对比度。利用这种装置，在没有任何表面抛光的情况下，观察到了非晶态磁性材料的磁畴图案。
In the domain observation apparatus using Kerr effect, it is absolutely necessary to do troublesome surface polishings in order to get good contrast. So, it is almost impossible to observe many samples quickly. We have developed a new domain pattern observation apparatus, in which the reflected lights by Kerr effect are converted into electric signals by CCD image sensor and the electric signals are processed by micro-computer to enhance the contrast. Using this appararus, the domain patterns of amorphous magnetic materials have been observed without any surface polishing.