辉光放电质谱法测定纯铂中杂质元素
辉光放电质谱法测定纯铂中杂质元素
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DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
李秋莹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
马媛;李楷中;胡洁琼;杨晓滔;任传婷;甘建壮;李秋莹
采用辉光放电质谱法(GDMS)测定纯铂中杂质元素含量,获得了仪器最佳工作条件,并对比了不同样品制备方式对测定结果的影响。结果表明,GDMS对大部分杂质元素的检出限低至10~(-9)量级,对含量在10~(-6)的杂质元素,测定相对标准偏差(RSD)在10%以内,可满足高纯铂的测定要求。与ICP-AES和ICP-MS测定结果对比表明,采用仪器提供的相对灵敏度因子(RSF)所得到的半定量结果与前二者存在一定的偏差,有必要采用标准样品进行RSF的校准。纯铂样品采用金属片、铟片粘附或粉末压片均可得到相似的检测结果,其中粉末压片法在标样制作中具有较好的应用前景。