Negative-cluster ion beam production from the tip of a sharp needle: Suppression of surface charging and surface analysis of an insulated sample
Negative-cluster ion beam production from the tip of a sharp needle: Suppression of surface charging and surface analysis of an insulated sample
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从尖针尖端产生负簇离子束：绝缘样品的表面充电抑制和表面分析
DOI：
10.1116/6.0001431
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发表时间：
2021
影响因子：
2.9
通讯作者：
Yukio Fujiwara and Naoaki Saito
中科院分区：
文献类型：
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作者：
松家祐太郎;岡田麻衣子;杉本岩雄;矢野和義;Yukio Fujiwara and Naoaki Saito;Yukio Fujiwara and Naoaki Saito
