Electrical resistivity and the Néel point of Mn100 − xCrx thin films

Electrical resistivity and the Néel point of Mn100 − xCrx thin films
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Mn100 − xCrx 薄膜的电阻率和尼尔点

DOI:
10.1016/s0011-2275(99)00128-9
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发表时间:
1999
期刊:
影响因子:
2.1
通讯作者:
K. G. Adanu
K. G. Adanu
中科院分区:
工程技术3区
文献类型:
--
作者:
F. Boakye;K. G. Adanu

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