Force and Tunneling Current Measurements on the Semiconductor Surface
Force and Tunneling Current Measurements on the Semiconductor Surface
复制标题
半导体表面上的力和隧道电流测量
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Daisuke Sawada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yamamoto;A.;Iwata;T.;Tokutomi;S.;*Kandori;H.;Daisuke Sawada
