Efficient file fuzz testing using automated analysis of binary file format

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DOI:
10.1016/j.sysarc.2010.03.002
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发表时间:
2011-03
期刊:
J. Syst. Archit.
影响因子:
--
通讯作者:
H. Kim;YoungHan Choi;Dong Hoon Lee
H. Kim;YoungHan Choi;Dong Hoon Lee
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
H. Kim;YoungHan Choi;Dong Hoon Lee

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