近接端子直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価
近接端子直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価
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采用闭端直流电位差法对表面裂纹进行定量无损评价
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
坂 真澄)
中科院分区：
文献类型：
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作者：
燈明 泰成;(シェイク リアズ アーメド;坂 真澄)
