X線スペクトロタイコグラフィ法による機能性材料粒子のナノ化学状態イメージング

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使用 X 射线光谱法对功能材料颗粒进行纳米化学状态成像

DOI:
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发表时间:
2022
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
石黒 志
石黒 志
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
佐々木雄平 ; 戸塚務 ; 石黒志 ; 上松英司 ; 高澤駿太郎 ; 山本和生 ; 入山恭寿 ; 高橋幸生;石黒 志

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