S.Hino, Y.Ishikawa, H.Tsuji: "Evaluation for bending strength of notched micro-specimen made of silicon"JSME Proceedings. No.000-2. 233-234 (2000)

S.Hino, Y.Ishikawa, H.Tsuji: "Evaluation for bending strength of notched micro-specimen made of silicon"JSME Proceedings. No.000-2. 233-234 (2000)
复制标题

S.Hino、Y.Ishikawa、H.Tsuji:“硅制缺口微型样品的弯曲强度评估”JSME 论文集。

DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
--
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:

文献摘要

相似文献