K.Fujito, N.Wakiya, K.Shinozaki, N.Mizutani: "Change of Residual Stressed and Electrical Properties of Pb(Zr, Ti)O_3 Thin Films upon Introducting Various Bottom Electrodes"J. Ceram. Soc. Japan. 110[5]. 421-427 (2002)
K.Fujito, N.Wakiya, K.Shinozaki, N.Mizutani: "Change of Residual Stressed and Electrical Properties of Pb(Zr, Ti)O_3 Thin Films upon Introducting Various Bottom Electrodes"J. Ceram. Soc. Japan. 110[5]. 421-427 (2002)
复制标题
K.Fujito, N.Wakiya, K.Shinozaki, N.Mizutani：“引入各种底部电极后 Pb(Zr, Ti)O_3 薄膜的残余应力和电性能的变化”J。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
