STRAIN RATE DEPENDENCE OF MECHANICAL PROPERTIES FOR SUB 100 NM-THICK AU FILM USING ELECTROSTATICALLY ACTUATED NANO TENSILE TESTING DEVICE
STRAIN RATE DEPENDENCE OF MECHANICAL PROPERTIES FOR SUB 100 NM-THICK AU FILM USING ELECTROSTATICALLY ACTUATED NANO TENSILE TESTING DEVICE
复制标题
使用静电驱动纳米拉伸测试设备测量厚度低于 100 nm 的 AU 薄膜的机械性能的应变率依赖性
DOI：
--
复制
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Hak-Joo Lee
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Hyun-Jin Ohl;Itsuo Hanasaki;Yoshitada Isono;Seung-Woo Han;Hak-Joo Lee
