DNA damage induced by K-shell ionization and succeeding resonant Auger transition
DNA damage induced by K-shell ionization and succeeding resonant Auger transition
复制标题
K 壳层电离和随后的共振俄歇跃迁引起的 DNA 损伤
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Masatoshi Ukai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Akinari Yokoya;Yuki Sugaya;Toshitaka Oka;Kentaro Fujii;Masatoshi Ukai
