Purity and Grain Size Effects of Creep Characteristics of Pure Aluminum for Electric Devices
Purity and Grain Size Effects of Creep Characteristics of Pure Aluminum for Electric Devices
复制标题
电子器件用纯铝的纯度和晶粒尺寸对蠕变特性的影响
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takamoto Itoh and Masao Sakane
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Norihiko Osada;Shogo Yoshitake;Fumio Ogawa;Takamoto Itoh and Masao Sakane
