BTI, HCI and TDDB aging impact in flip-flops

BTI, HCI and TDDB aging impact in flip-flops
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BTI、HCI 和 TDDB 对触发器的老化影响

DOI:
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发表时间:
2013
期刊:
Microelectronics and reliability
影响因子:
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通讯作者:
R. Ribas
R. Ribas
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Cicero Nunes;P. Butzen;A. Reis;R. Ribas

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