T.Takahashi,et al: "Studies on Si(111)√<3>×√<3> -Bi and-Ag surtaces by X-ray diffraction under nearly normal incidence" Rev.Sci.Instrum. 60(7). 2365-2368 (1989)
T.Takahashi,et al: "Studies on Si(111)√<3>×√<3> -Bi and-Ag surtaces by X-ray diffraction under nearly normal incidence" Rev.Sci.Instrum. 60(7). 2365-2368 (1989)
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T. Takahashi 等人：“通过近垂直入射的 X 射线衍射研究 Si(111)√<3>×√<3> -Bi 和-Ag 表面”Rev.Sci.Instrum 60(7)。 2365-2368 (1989)
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