Y.Ogita, Y.Gan-nen: "Silicon wafer subsurface characterization with UV/millimeter-wave technique"Mat.Res.Soc.. Vol.631. AA2.5.1-AA2.5.6 (2001)
Y.Ogita, Y.Gan-nen: "Silicon wafer subsurface characterization with UV/millimeter-wave technique"Mat.Res.Soc.. Vol.631. AA2.5.1-AA2.5.6 (2001)
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Y.Ogita、Y.Gan-nen：“利用 UV/毫米波技术进行硅晶片表面下表征”Mat.Res.Soc.. Vol.631。
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