Piezoelectricity in Poled Ge-Doped Silica Thin Films
Piezoelectricity in Poled Ge-Doped Silica Thin Films
复制标题
极化掺锗二氧化硅薄膜中的压电性
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S.Noge
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Uno;S.Noge
