Characterization of ternary Al–B–N films
Characterization of ternary Al–B–N films
复制标题
三元 Al-B-N 薄膜的表征
DOI：
10.1016/s0040-6090(00)01435-8
复制
发表时间：
2000
期刊：
影响因子：
2.1
通讯作者：
D. Neuschütz
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M. Witthaut;R. Cremer;K. Reichert;D. Neuschütz
