硬X線光電子分光によるSml-xCaxNi03薄膜の電子状態
硬X線光電子分光によるSml-xCaxNi03薄膜の電子状態
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通过硬 X 射线光电子能谱研究 Sml-xCaxNi03 薄膜的电子态
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
組頭 広志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
吉松 公平;坂井 延寿;Ping-Hua Xiang;浅沼 周太郎;山田 浩之;澤 彰仁;池永 英司;堀場 弘司;尾嶋 正治;組頭 広志
